DW-XRD-Y3000 Model X-Işını Kırınımı Cihazı
- Y3000 Serisi difraktometre, malzeme araştırması ve endüstriyel ürün analizi için tasarlanmıştır. Geleneksel analiz ile özel amaçlı ölçüm ürünlerinin mükemmel birleşimidir.
- Donanım ve yazılım sistemlerinin mükemmel birleşimi, akademisyenlerin ve araştırmacıların farklı uygulama alanlarındaki ihtiyaçlarını karşılamaktadır.
- Yüksek hassasiyetli kırınım açısı ölçüm sistemi daha doğru sonuçlar elde eder
- X-ışını jeneratörü kontrol sisteminin yüksek kararlılığı daha kararlı tekrarlanabilirlik hassasiyeti sağlar. Programlanabilir çalışma, entegre yapı tasarımı, kolay kullanım, şık görünüm.
X-ışını difraksiyon (XRD), kristal yapıyı ve kimyasal bilgileri ortaya çıkarmak için çok yönlü bir test cihazıdır:
● Çeşitli faz tanımlamalarında bilinmeyen örnekler
● Bilinen kantitatif faz analizine sahip karışık numuneler
● Kristal yapı analizi
● Kristal yapı, alışılmadık koşullar altında (yüksek sıcaklık, düşük sıcaklık koşulları) değişir.
● Malzeme yüzey filminin analizi
● Metal malzeme dokusu ve stresinin analizi
● Metal malzeme dokusu ve stresinin analizi
DW-XRD-Y300 XRD'nin teknik parametresi
| XRD-Y3000 | |
| Anma gücü | 3kW |
| Tüp gerilimi | 10-60kV |
| Tüp akımı | 5-80mA |
| X-ışını tüpü | cam tüp, seramik tüp, dalgalı seramik tüp: Cu, Fe, Co, Cr, Mo vb, Güç 2kW |
| Odak boyutu | 1 x 10 mm veya 0.4 x 14 mm veya 2 x 12 mm |
| istikrar | ≤0.01% |
| Gonyometre yapısı | Yatay (θ-2 θ) |
| Kırınım yarıçapı | 185mm |
| Tarama aralığı | 0-164 |
| Tarama hızı | 0.0012° – 70° dk |
| Maksimum dönme hızı | 100° /dk |
| Moda taraması | θ-2θ bağlantısı, θ、2θ tek eylem; sürekli veya adım adım tarama |
| Açı tekrarlanabilir doğruluk | 1 / 1000 ° |
| Minimum adım açısı | 1 / 1000 ° |
| Detektör | orantılı sayaçlar (PC) veya sintilasyon sayaçları (SC) |
| Doğrusallığın maksimum sayım oranı | X 5 105CPS (okuldan ayrılma sayımının telafi fonksiyonu ile) |
| Enerji çözünürlük oranı | ≤%25 (PC)、≤%50 (SC) |
| Moda sayımı | diferansiyel katsayı veya integral, PHA otomatik, Ölü zaman düzenlemesi |
| Sistem ölçütünün kararlılığı | ≤0.01% |
| Dağınık ışınlar dozu | ≤1 μ Sv/h (X-ışını koruyucu cihaz olmadan) |
| Enstrüman bütünleştirici kararlılık | ≤0.5% |
| Şekil büyüklüğü | 1100 850 x x 1750mm |
